XJM 400 Ters Metal Mikroskop

Uzun çalışma mesafeleri elde ederken XJM400 serisi ters metalurjik mikroskop optik, düz, keskin ve parlak net görüntü sağlar. , Parlak bir alan ve basit bir kutuplaşma gözlem için geliştirilen ve kompakt, dayanıklı, ancak kolay kullanım olacak şekilde tasarlanmıştır, metallurgraphic ve elektronik bileşenlerin yanı sıra, alan ve kalite kontrol departments.CCD ya da dijital kamera malzemeleri için mükemmel bir görüntü yakalama ve profesyonel eklenebilir ama kullanıcı dostu metalürjik analiz software seçenek için de kullanılabilir.


 

Specification
XJM401
XJM402
XJM403
XJM404
Optical System
Finity Optical System
s
s
 
 
Infinity Optical System F=200mm
 
 
s
s
Viewing Head
Siedentopf binocular head,
Inclined at 45 °
Interpupillary distance: 55~75mm
s
 
s
 
Siedentopf trinocular head ,
Inclined at 45 °
Interpupillary distance:55~75mm
 
s
 
s
Eyepiece
WF10X/20mm
s
s
 
 
WF10X/22mm
 
 
s
s
WF10X/20mm with reticule 0.1mm
s
s
s
s
Nosepiece
Quadruple nosepiece
 
 
s
s
Quintuple nosepiece
s
s
   
Objective
195 metallurgical objective 4X,10X, 20X, 40X
s
s
 
 
Infinity metallurgical objective 4X,10X, 20X, 40X
 
 
s
s
50X/0.75 WD=1.9mm
80X/0.9 (S) WD=0.9mm
0
 
0
 
0
0
Stage
Double layers size: 242×172mm Moving range: 75×50mm
Central Stage 110mm
s
s
s
s
Condenser
Abbe NA=1.25 condenser with iris diaphragm & filter
s
s
s
s
Focusing
Coaxial coarse and fine focusing adjustment with rack and pinion mechanism
Fine focusing scale: 0.002mm
s
s
s
s
Illumination
Epi-Kohler illumination with aperture iris diaphragm and field iris diaphragm
?
?
?
?
Transmission light,
12V 30W. AC85V~230V
Adjustable brightness
s
s
s
s
Polarizing
Analyzer rotatable 360°, polarizer and analyzer can be swing in / out of the optical path
s
s
s
s
Filter
Blue, green, yellow
s
s
s
s
Micrometer
0.01mm
s
s
s
s

 

Call Me